Dage X光检查机测试仪设计满足PCB和半导体工业的增长需求,用户可以轻松获取高质量、高放大倍数和高分辨率下的被测物任何方位的图像。由于采用开管(Open Tube)技术,在放大倍数方面远远**过了采用闭管(Closed Tube)技术的X光检测仪达到亚微米级,能满足客户更高精度的需求。 Dage X光检测系统专为印制电路板 (PCB) 和半导体行业设计,并且采用了符合人体工程学的设计,可提供高分辨率纳米级焦距 X射线系统,不仅可用于实验室故障分析,也可用于生产环境。 DAGE X光检查机*一**的 Dage NT 密封传送型 X 射线管是 Dage NT X 射线检测系统的核心部件. 其取代了早期系统中使用的闭合式管和开放式管,性能得到了很大的提升。只有采用密封传送管才能切实提高 X 射线图像的分辨率,同时还能提供大功率,而不影响分辨率和放大率。 规格 XiDat XD7500 尺寸(长x宽x高) 1450 x 1700 x 1970mm 重量 1900 KG 较小聚集光点 1micron X光发射管 开放管 X 射线管电压范围 30-160 KV 较大检测面积 458MM x 407MM 较大板尺寸 508MM x 444MM 较大样本重量 5 KG 电源 单相 200-230V/16A 斜角视图 0-70°(360°*检测) 系统(几何)放大倍率 1065x 辐射安全标准 1uSv/Hr(符合欧美标准) 主要特点: DAGE7500 VR X光无损检测系统 主要特征: ? 较小分辨率:950纳米(0.95 微米); ? 影像接收器左右偏转角度各70度(共140度),旋转360度; ? 图像采集:1.3M万数字CCD; ? 较大检测区域面积: 18”x 16”(458 x 407 mm); ? 较大样品尺寸: 20”x 17.5”(508 x 444mm); ? 系统较大放大倍数: 至5650X; ? 显示器: 20.1"(DVI interface)数字彩色平板LCD,(1600 x 1200PIXELS); ? 安全性: 在机器表面任何地方X光泄露率 < 1 m Sv/hr 等等 、 有意者联系:13631705611